[1]谢晶晶 李代平 郭琨.智能卡操作系统的测试技术[J].计算机技术与发展,2010,(08):21-24.
　XIE Jing-jing,LI Dai-ping,GUO Kun.Test Technology in Chip Operating System[J].,2010,(08):21-24.
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智能卡操作系统的测试技术()
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《计算机技术与发展》[ISSN:1006-6977/CN:61-1281/TN]

卷:
期数:
2010年08期
页码:
21-24
栏目:
智能、算法、系统工程
出版日期:
1900-01-01

文章信息/Info

Title:
Test Technology in Chip Operating System
文章编号:
1673-629X（2010）08-0021-04
作者:
谢晶晶 李代平 郭琨
广东工业大学计算机学院
Author(s):
XIE Jing-jing; LI Dai-ping; GUO Kun
Faculty of Computer,Guangdong University of Technology
关键词:
智能卡操作系统; 测试用例; EVDO卡
Keywords:
chip operating system（COS）;  test case;  EVDO card
分类号:
TP31
文献标志码:
A
摘要:
智能卡操作系统是智能卡能够支持复杂且安全的应用的基础,目前智能卡操作系统的测试并没有形成成熟的模式。为了在智能卡操作系统的开发中能够对操作系统进行全面并充分的测试,根据智能卡操作系统的体系结构特点、状态转移过程和通信方式,结合软件测试中的理论方法及测试技术,从基本功能、防拔插及耐久性三方面对智能卡操作系统的测试进行研究,给出了智能卡操作系统的测试方案。在EVDO卡的测试中表明,该测试方案是可行的
Abstract:
Chip operating system is basis of smart card capable of supporting complex and security applications.Now,the testing process of chip operating system has not been formed a mature mode.In order to develop chip operating system capable of operating in a com

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备注/Memo

备注/Memo:
广东省广州市自然科技基金项目（2008-GX-015）谢晶晶（1986-），女，江西南康人，硕士研究生，研究方向为智能卡操作系统；李代平，教授，研究方向为智能卡操作系统、软件体系结构、并行计算
更新日期/Last Update: 1900-01-01