[1]常小龙 丁国良 尹文龙 王创伟.集成电路电磁辐射与数据相关性研究[J].计算机技术与发展,2010,(07):156-159.
CHANG Xiao-long,DING Guo-liang,YIN Wen-long,et al.Research on Correlation Between ICs Electromagnetic Radiation and Data[J].,2010,(07):156-159.
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集成电路电磁辐射与数据相关性研究(
)
《计算机技术与发展》[ISSN:1006-6977/CN:61-1281/TN]
- 卷:
-
- 期数:
-
2010年07期
- 页码:
-
156-159
- 栏目:
-
安全与防范
- 出版日期:
-
1900-01-01
文章信息/Info
- Title:
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Research on Correlation Between ICs Electromagnetic Radiation and Data
- 文章编号:
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1673-629X（2010）07-0156-04
- 作者:
-
常小龙 丁国良 尹文龙 王创伟
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军械工程学院计算机工程系
- Author(s):
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CHANG Xiao-long; DING Guo-liang; YIN Wen-long; WANG Chuang-wei
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Department of Computer Engineering,Ordnance Engineering College
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- 关键词:
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CMOS集成电路; 金属层; 电磁信息泄漏; 数据相关性; 电偶极子
- Keywords:
-
CMOS integrate circuits; metal layer; electromagnetic information leakage; data correlation; electric dipole
- 分类号:
-
TP309
- 文献标志码:
-
A
- 摘要:
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为了减少集成电路密码芯片工作时的电磁信息泄漏,设计具有防护能力的加密芯片。在研究CMOS集成电路电磁辐射原理的基础上,分析了电磁辐射产生数据相关性的机理。以电偶极子为模型,简化了电磁计算的方法,对基本的CMOS电路工作过程进行分析。采用TSMC 0.18工艺设计CMOS反相器,并对该反向器进行电磁辐射仿真。建立评估模型并对金属层电磁辐射的信息泄漏进行评估。结果表明,电路工作时NMOS金属层、PMOS金属层和输出线的金属层产生的电磁辐射均会导致信息泄漏,长度相等时,输出线金属层的电磁信息泄漏更强
- Abstract:
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In order to reduce electromagnetic information leakage of IC cipher chip,design encryption chip which has defending ability.The principles of electromagnetic radiation produced by IC is analyzed.Study the mechanism of data correlation caused by electromag
备注/Memo
- 备注/Memo:
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国家863计划项目（2007AA01Z454）常小龙（1986-），男，硕士，研究方向为集成电器防护与安全设计;丁国良．副教授，研究方向为集成电路防护与安全设计
更新日期/Last Update:
1900-01-01