[1]赵新宇 卢强 黄士坦.提高集成电路组件外观检测速度的算法研究[J].计算机技术与发展,2010,(05):70-74.
ZHAO Xin-yu,LU Qiang,HUANG Shi-tan.Research of Arithmetic on Improving Rapidity in Inspecting Integrate Circuit Module Aspect[J].,2010,(05):70-74.
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提高集成电路组件外观检测速度的算法研究(
)
《计算机技术与发展》[ISSN:1006-6977/CN:61-1281/TN]
- 卷:
-
- 期数:
-
2010年05期
- 页码:
-
70-74
- 栏目:
-
智能、算法、系统工程
- 出版日期:
-
1900-01-01
文章信息/Info
- Title:
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Research of Arithmetic on Improving Rapidity in Inspecting Integrate Circuit Module Aspect
- 文章编号:
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1673-629X（2010）05-0070-04
- 作者:
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赵新宇 卢强 黄士坦
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西安微电子技术研究所
- Author(s):
-
ZHAO Xin-yu; LU Qiang; HUANG Shi-tan
-
Xi＇an Microelectronics Technology Institute
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- 关键词:
-
芯片检测; 直线拟合; 主轴; ROI; 亚像素
- Keywords:
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chip detection; line fitting; principal axis; ROI; sub-pixel
- 分类号:
-
TP301.6
- 文献标志码:
-
A
- 摘要:
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集成电路芯片外观检测中,图像处理算法的精度和速度严重制约了检测质量及效率的提升。鉴于此,文中提出了两种快速检测芯片外观参数的算法——直线拟合算法和主轴算法。上述两种算法根据待检测管脚参数的特点,在选取ROI区域的基础上,只针对所选区域的图像进行相关预处理,从而进一步提高速度。直线拟合算法从待测管脚的边缘点着手进行处理,而主轴算法则关注于管脚的一二阶矩,并根据主轴公式得出所求参数。最后从速度和精度方面对此两种算法的特点进行了对比分析并给出了两种算法的实验结果。
- Abstract:
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In inspecting the chip aspect of integrate circuit,the rate and precision of image procession badly restrict the advance in both inspective quality and efficiency.In view of that,give two methods in fast inspecting the chip parameters ——arithmetic of line
备注/Memo
- 备注/Memo:
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航天课题支持项目（417010202）赵新宇（1985-），女，河北石家庄人，硕士研究生，研究方向为图像处理；黄士坦，研究员，博士生导师，研究方向为图像处理、嵌入式计算机及并行计算。
更新日期/Last Update:
1900-01-01