[1]贾其燕 王友仁 崔江.一种基于遗传算法的动态电流测试生成方法[J].计算机技术与发展,2009,(06):225-228.
　JIA Qi-yan,WANG You-ren,CUI Jiang.A Dynamic Current Test Generation Method Based on Genetic Algorithm[J].,2009,(06):225-228.
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一种基于遗传算法的动态电流测试生成方法()
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《计算机技术与发展》[ISSN:1006-6977/CN:61-1281/TN]

卷:
期数:
2009年06期
页码:
225-228
栏目:
应用开发研究
出版日期:
1900-01-01

文章信息/Info

Title:
A Dynamic Current Test Generation Method Based on Genetic Algorithm
文章编号:
1673-629X（2009）06-0225-04
作者:
贾其燕 王友仁 崔江
南京航空航天大学自动化学院
Author(s):
JIA Qi-yan; WANG You-ren;  CUI Jiang
College of Automation Engineering, Nanjing University of Aeronautics and Astronautics
关键词:
数字电路; 动态电流; 测试生成; 遗传算法; BP神经网络
Keywords:
digital circuit;  IDDT;  test generation; genetic algorithm;  BP neural network
分类号:
TP306
文献标志码:
A
摘要:
针对数字电路测试矢量生成复杂、数量庞大的问题，研究了采用遗传算法进行优化选择的数字电路动态电流测试矢量生成方法。利用遗传算法全局优化、并行处理结构等特性来获得冗余度较小的精简测试集。将得到的测试集施加至电路中，并检测数字电路动态电源电流，再采用小波包分析提取故障特征信息，用BP神经网络来进行故障定位。以ISCA85’基准电路C432为例，验证了文中方法的有效性和可行性。实验结果表明所提出的新方法可以在较小的测试集下达到100％的故障诊断率
Abstract:
Facing the digital circuit test generation is complex, and the number is huge, a digital circuit dynamic current test vector generation method based on genetic algorithm optimization is proposed. It uses genetic algorithm global optimization, parallel pro

相似文献/References:

[1]王平 鄢靖丰 许江东.基于演化算法的电路自动设计方法[J].计算机技术与发展,2006,(01):47.
　WANG Ping,YAN Jing-feng,XU Jiang-dong.Circuit Automatic Design Based on Evolutionary Algorithm[J].,2006,(06):47.

备注/Memo

备注/Memo:
航空科学基金（2006ZD52044）贾其燕（1984-），女，山东人，硕士研究生，研究方向为数字电路电源电流测试技术；王友仁，教授，博士生导师，研究方向为计算机测控技术与智能系统，健康监测与故障诊断技术等。
更新日期/Last Update: 1900-01-01